[发明专利]一种防黏的半导体封装工艺及用于半导体封装工艺的模具有效
申请号: | 201810926949.2 | 申请日: | 2018-08-15 |
公开(公告)号: | CN109103115B | 公开(公告)日: | 2020-05-26 |
发明(设计)人: | 王晓勇 | 申请(专利权)人: | 临沂金霖电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56 |
代理公司: | 山东诚杰律师事务所 37265 | 代理人: | 王志强;刘成飞 |
地址: | 276000 山东省临沂*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了半导体封装技术领域的一种防黏的半导体封装工艺及用于半导体封装工艺的模具,包括上模和下模,所述下模顶部左右两侧均设置有定位杆,所述上模和下模相对一侧均开设有凹槽,所述凹槽位于定位杆内侧,两组所述凹槽内壁左右两侧均设置有相匹配的防黏折型片,所述上脱模组件和脱模螺纹推杆相对一端均连接有防黏平面板,在脱模时,转动固定螺杆,使上模上升,同时受定位杆上设置弹簧,脱模时使上模向上,通过设置的上脱模组件,使复位弹簧顶动活动杆组件带动顶部的防黏平面板向下,在上模向上的过程中,使封装材料与上模凹槽分离,通过转动脱模螺纹推杆带动防黏平面板上升,即可完成快速脱模。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 封装 工艺 用于 模具 | ||
【主权项】:
1.一种用于半导体封装工艺的模具,包括上模(1)和下模(2),其特征在于:所述上模(1)和下模(2)左右两侧均对称设置有定位块(3),所述上模(1)左右两侧定位块(3)顶部均插接有固定螺杆(4),且下模(2)左右两侧定位块(3)上开设有与固定螺杆(4)匹配的螺孔,所述下模(2)顶部左右两侧均设置有定位杆(5),且定位杆(5)外壁套接有弹簧(6),且上模(1)底部左右两侧均开设有与定位杆(5)匹配的定位孔,所述上模(1)和下模(2)相对一侧均开设有凹槽(7),所述凹槽(7)位于定位杆(5)内侧,底部所述凹槽(7)底部开设有延伸槽(9),两组所述凹槽(7)内壁左右两侧均设置有相匹配的防黏折型片(8),所述下模(2)底部插接有脱模螺纹推杆(10),且脱模螺纹推杆(10)顶端贯穿下模(2)底部,所述上模(1)顶部左侧开设有注模通口(12),且注模通口(12)底部贯穿上模(1)顶部,顶部所述凹槽(7)顶部中央开设有装配槽,且装配槽内壁固定设置有上脱模组件(13),所述上脱模组件(13)和脱模螺纹推杆(10)相对一端均连接有防黏平面板(11),且脱模螺纹推杆(10)顶端通过轴承与防黏平面板(11)连接,顶部所述防黏平面板(11)左侧开设有与注模通口(12)相连通的进料口,所述防黏折型片(8)和防黏平面板(11)结构相同。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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