[发明专利]一种用于检测玻璃面板内部缺陷的检测设备

摘要

本发明涉及玻璃内部缺陷检测技术领域，且公开了一种用于检测玻璃面板内部缺陷的检测设备，包括基座，所述基座的左端安装有机架，机架上安装有腔体内具有X射线管的承托机构，承托机构的右端安装有通光筒，通光筒的右端与固定槽的第二通光孔连接，固定槽的第三通光孔的右侧方安装有X射线成像机构，X射线成像机构的漏极与放大器的输入端连接，放大器的输出端与插接在图像显示终端的插槽内的数模转化器的输入端连接，数模转化器的输出端与部署有图像处理软件的图像显示终端的输入端连接，图像显示终端的输出端与图像显示器连接。本发明解决了现有的用于检测玻璃面板内部缺陷的检测设备，检测效率不佳与检测精准度差的问题。

主权项

1.一种用于检测玻璃面板内部缺陷的检测设备，包括基座(1)，其特征在于：所述基座(1)顶侧表面的左端安装有呈矩形体形状设置的机架(2)，机架(2)底端的矩形面与基座(1)顶侧表面上左端的矩形面固定连接，机架(2)的右侧面中心安装有呈矩形体形状设置且内部具有空腔的承托机构(3)，其左端面和机架(2)的右端面中心固定连接的承托机构(3)的右端中心开设有径向剖面呈圆形形状设置且轴向剖面呈矩形形状设置的第一通光孔(301)，贯穿承托机构(3)右端的第一通光孔(301)的进口端和出口端分别设置在承托机构(3)腔体内的右侧面和腔体外的右侧面；承托机构(3)的腔体内安装有其腔体内呈真空设置的X射线管(4)，X射线管(4)腔体内的轴向中心的前侧方安装有连接在第一铜棒(402)后端的钨灯丝(401)，第一铜棒(402)的前端贯穿X射线管(4)的前端中心并延伸至其腔体外，且第一铜棒(402)的前端具有两个接线口，分别为与高压电源负极连接的第一阴极接线口(402)和用于加热钨灯丝(401)且与灯丝电源的正极和负极连接的第二阴极接线口(404)；X射线管(4)腔体内的轴向中心的后侧方安装有连接在第二铜棒(406)前端且由钨材质制成的X射线靶(405)，X射线靶(405)的靶面所在平面与水平面呈45‑60度夹角设置，第二铜棒(406)的后端贯穿X射线管(4)的后端中心并延伸至其腔体外，第二铜棒(406)的后端具有与高压电源正极连接的阳极接线口(407)；承托机构(3)的右端安装有径向剖面呈圆环形形状设置、轴向剖面呈矩环形形状设置且左端和右端均具有开口的通光筒(5)，通光筒(5)左端的圆环面与承托机构(3)的第一通光孔(301)出口端的圆环面固定连接，通光筒(5)右端的圆环面与径向剖面呈矩环形形状设置且左右两端中心分别具有径向剖面呈圆形形状设置、轴向剖面呈矩形形状设置的相互对称的第二通光孔(601)和第三通光孔(602)的固定槽(6)的第二通光孔(601)出口端的圆环面固定连接；固定槽(6)的底面与其底端面和基座(1)顶侧表面中心固定连接的第一支座(101)的顶端面固定连接，固定槽(6)的第三通光孔(602)出口端的右侧方安装有左端中心具有通孔、内部具有空腔且呈矩形体形状设置的X射线成像机构(9)，X射线成像机构(9)的底面与其底端面和基座(1)顶侧表面中心的右侧方固定连接的第二支座(102)的顶端面固定连接；X射线成像机构(9)包括由硼硅玻璃材质制成且位于X射线成像机构(9)腔体内的右端面的衬底板(905)，衬底板(905)的左侧表面上安装有由按照阵元方式排列的薄膜晶体管(904)组成的集电矩阵，薄膜晶体管(904)包括左侧表面由第一凹面、凸面和第二凹面组成的P型硅衬底(9041)，P型硅衬底(9041)的第一凹面和第二凹面上分别扩散有作为源极(9042)的第一N型区和作为漏极(9043)的第二N型区，源极(9042)与高压电源的正极连接，漏极(9043)与放大器(906)的输入端连接，P型硅衬底(9041)的凸面、第一N型区的左侧表面和第二N型区的左侧表面上覆盖有由二氧化硅材质制成带有大量正离子的第二绝缘层(9044)，第二绝缘层(9044)的左侧面安装有由金属铝材质制成且通过导线与源极(9042)相互连通的栅极(9045)，栅极(9045)与高压电源的负极连接；在集电矩阵的薄膜晶体管(904)阵列的左侧方通过真空蒸镀生成按照阵元方式排列的非晶硒膜(903)，非晶硒膜(903)的左侧面上覆盖有截面呈矩形形状设置的第一绝缘层(902)，第一绝缘层(902)的左侧方安装有截面呈矩形形状设置且与偏置高压电源的正极连接的顶层电极(901)；放大器(906)的输出端与插接在图像显示终端(11)左端中心插槽内的数模转化器(10)的输入端连接，数模转化器(10)的输出端与其底面和基座(1)顶侧表面上右端的左侧方固定连接且部署有图像处理软件的图像显示终端(11)的输入端连接，图像显示终端(11)的输出端与图像显示器相互连接。