[发明专利]部分阵元损坏的均匀面阵张量重构方法及信源定位方法有效

专利信息
申请号: 201810932079.X 申请日: 2018-08-16
公开(公告)号: CN109143151B 公开(公告)日: 2022-07-12
发明(设计)人: 葛超;张小飞;林新平;何浪;周梦婕 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G01S3/00 分类号: G01S3/00
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 张耀文
地址: 211106 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了部分阵元损坏的均匀面阵张量重构方法,包括以下步骤:步骤1:在测定场景内布置阵列天线获得接收信号并构建接收信号张量模型;步骤2:将步骤1得到的张量模型沿三个方向展开分别得到一个接收信号矩阵的转置矩阵和两个观测矩阵;步骤3:利用步骤2得到的任一个观测矩阵进行数据补全;步骤4:利用补全后的观测矩阵进行反向折叠得到接收信号张量模型;步骤5:重复步骤2将步骤4得到的张量模型进行展开得到填充后的矩阵。本发明还提供了使用该张量重构方法进行信源定位的方法。本发明提供的部分阵元损坏的均匀面阵张量重构方法及信源定位方法的优点在于:降低了计算复杂度、提高了计算精度,具有良好的推广前景。
搜索关键词: 部分 损坏 均匀 张量 方法 信源 定位
【主权项】:
1.部分阵元损坏的均匀面阵张量重构方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤1:在测定场景内布置整列天线获得接收信号并构建成接收信号张量模型;步骤2:将步骤1得到的张量模型沿三个方向分解得到一个接收信号矩阵的转置矩阵和两个观测矩阵;步骤3:利用步骤2得到的任一个观测矩阵进行数据补全得到生成矩阵;步骤4:利用生成矩阵进行反向折叠得到新的折叠张量模型;步骤5:重复步骤2将步骤4得到的折叠张量模型进行展开得到新的转置矩阵。
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