[发明专利]一种C8-BTBT晶体管湿度检测方法在审

专利信息
申请号: 201810935350.5 申请日: 2018-08-16
公开(公告)号: CN109254238A 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: 陆旭兵;麦嘉盈;唐乃维 申请(专利权)人: 华南师范大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01N27/00
代理公司: 广州骏思知识产权代理有限公司 44425 代理人: 吴静芝
地址: 510006 广东省广州市番禺区外*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种C8‑BTBT晶体管湿度检测方法,首先将C8‑BTBT晶体管依次置于一系列具有梯度差的湿度环境下,分别测得所述C8‑BTBT晶体管在各湿度下饱和区的传输特性曲线,根据该传输特性曲线计算出不同湿度下C8‑BTBT晶体管的迁移率,从而得到湿度‑迁移率标准曲线;再将C8‑BTBT晶体管置于待测环境中,测得其饱和区的传输特性曲线,根据该传输特性曲线计算得到C8‑BTBT晶体管在待测环境中的迁移率μ,将μ代入上述湿度‑迁移率标准曲线即可得到待测湿度值。C8‑BTBT晶体管在不同湿度下具有不同的传输特性曲线和迁移率,从而可建立湿度‑迁移率标准曲线,通过检测C8‑BTBT晶体管的迁移率再根据C8‑BTBT晶体管的湿度‑迁移率标准曲线确定湿度值。
搜索关键词: 晶体管 迁移率 传输特性曲线 标准曲线 湿度检测 饱和区 标准曲线确定 湿度环境 检测
【主权项】:
1.一种C8‑BTBT晶体管湿度检测方法,其特征在于包括以下步骤:S1:将C8‑BTBT晶体管依次置于一系列具有梯度差的湿度环境下,分别测得所述C8‑BTBT晶体管在各湿度下饱和区的传输特性曲线,根据该传输特性曲线计算出不同湿度下C8‑BTBT晶体管的迁移率,从而得到湿度‑迁移率标准曲线;S2:将C8‑BTBT晶体管置于待测环境中,测得其饱和区的传输特性曲线,根据该传输特性曲线计算得到C8‑BTBT晶体管在待测环境中的迁移率μ,将μ代入上述湿度‑迁移率标准曲线即可得到待测湿度值。
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