[发明专利]一种用于伊辛芯片的局部搜索方法及电路有效
申请号: | 201810942150.2 | 申请日: | 2018-08-17 |
公开(公告)号: | CN109240644B | 公开(公告)日: | 2023-08-15 |
发明(设计)人: | 陈虎;吕思懿;万江华;汪东 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科技大学 |
主分类号: | G06F7/505 | 分类号: | G06F7/505 |
代理公司: | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人: | 周长清;胡君 |
地址: | 410073 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开一种用于伊辛芯片的局部搜索方法及电路,该方法步骤包括:S1.预先将由所需输入问题映射得到的伊辛模型系数分为多组,将得到的各分组伊辛模型系数进行求和运算后,得到多组系数求和数据;S2.将各组系数求和数据提供给伊辛芯片中各自旋计算节点,各自旋计算节点根据相连各自旋计算节点的自旋状态,使用各分组系数求和数据计算局部搜索项;该电路包括预分组求和模块、局部搜索模块。本发明具有实现方法简单、所需成本低、硬件开销小以及效率高等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 芯片 局部 搜索 方法 电路 | ||
【主权项】:
1.一种用于伊辛芯片的局部搜索方法,其特征在于,步骤包括:S1.预分组求和:预先将由所需输入问题映射得到的伊辛模型系数分为多组,将得到的各分组伊辛模型系数进行求和运算后,得到多组系数求和数据;S2.局部搜索:将各组所述系数求和数据提供给伊辛芯片中各自旋计算节点,各自旋计算节点根据相连各自旋计算节点的自旋状态,使用各分组所述系数求和数据计算局部搜索项。
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