[发明专利]一种用于伊辛芯片的局部搜索方法及电路有效

专利信息
申请号: 201810942150.2 申请日: 2018-08-17
公开(公告)号: CN109240644B 公开(公告)日: 2023-08-15
发明(设计)人: 陈虎;吕思懿;万江华;汪东 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G06F7/505 分类号: G06F7/505
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 周长清;胡君
地址: 410073 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开一种用于伊辛芯片的局部搜索方法及电路,该方法步骤包括:S1.预先将由所需输入问题映射得到的伊辛模型系数分为多组,将得到的各分组伊辛模型系数进行求和运算后,得到多组系数求和数据;S2.将各组系数求和数据提供给伊辛芯片中各自旋计算节点,各自旋计算节点根据相连各自旋计算节点的自旋状态,使用各分组系数求和数据计算局部搜索项;该电路包括预分组求和模块、局部搜索模块。本发明具有实现方法简单、所需成本低、硬件开销小以及效率高等优点。
搜索关键词: 一种 用于 芯片 局部 搜索 方法 电路
【主权项】:
1.一种用于伊辛芯片的局部搜索方法,其特征在于,步骤包括:S1.预分组求和:预先将由所需输入问题映射得到的伊辛模型系数分为多组,将得到的各分组伊辛模型系数进行求和运算后,得到多组系数求和数据;S2.局部搜索:将各组所述系数求和数据提供给伊辛芯片中各自旋计算节点,各自旋计算节点根据相连各自旋计算节点的自旋状态,使用各分组所述系数求和数据计算局部搜索项。
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