[发明专利]一种短周期批产化卫星的测试方法有效

专利信息
申请号: 201810946125.1 申请日: 2018-08-20
公开(公告)号: CN109270366B 公开(公告)日: 2021-02-09
发明(设计)人: 陈博;梁旭文;汪灏;闫梅;张芮;刘阔;丰正功;曹彩霞;李静 申请(专利权)人: 上海微小卫星工程中心
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;H04B7/185;B64G99/00
代理公司: 上海智晟知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31313 代理人: 昝沁;李镝的
地址: 201203 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种短周期批产化卫星的测试方法。本申请涉及一种批产化卫星的测试方法,其为批产化卫星综合测试项目中的桌面联试阶段的主要测试内容,且包括卫星接口测试和卫星功能及性能测试;其中所述卫星接口测试方法为卫星接口测试内容在批产化卫星同一批次的每颗星上的遍历测试;其中所述卫星功能及性能测试方法包括1)与硬件相关的功能和性能测试,和2)与软件相关的功能测试;其中所述与硬件相关的功能和性能测试采取在批产化卫星同一批次的每颗星上的遍历测试;以及其中所述与软件相关的功能测试考核的是星载软件,且又分成几个测试项目,分别在批产化卫星同一批次的每颗星上测试一部分,最终保证批产化卫星同一批次所有星上的测试内容覆盖全部测试项目。
搜索关键词: 一种 周期 批产化 卫星 测试 方法
【主权项】:
1.一种批产化卫星的测试方法,其为批产化卫星综合测试项目中的桌面联试阶段的主要测试内容,其特征在于,包括卫星接口测试和卫星功能及性能测试,且所述卫星接口测试方法为卫星接口测试内容在批产化卫星同一批次的每颗星上的遍历测试;所述卫星功能及性能测试方法包括1)与硬件相关的功能和性能测试,和2)与软件相关的功能测试;所述与硬件相关的功能和性能测试采取在批产化卫星同一批次的每颗星上的遍历测试;所述与软件相关的功能测试考核的是星载软件,且又分成几个测试项目,分别在批产化卫星同一批次的每颗星上测试一部分,最终保证批产化卫星同一批次所有星上测试内容覆盖全部测试项目。
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