[发明专利]一种133

摘要

本发明属于放射性气体源技术领域，涉及一种133Xe模拟气体源的制备及探测效率校正方法。所述的方法包括如下步骤：(1)在每个EPS颗粒表面添加微量含有乙烯醇分子的树脂胶，并滴加1μl133Ba放射性标准溶液；(2)将步骤(1)得到的EPS颗粒烘干、混匀后装入模拟源盒制成133Ba模拟源；(3)通过γ谱仪测量步骤(2)制备的133Ba模拟源的γ峰计数，并计算得到133Ba的探测效率；(4)制备133Xe气体源；(5)通过γ谱仪测量步骤(4)制备的133Xe气体源的γ峰计数，并计算得到133Xe的探测效率；(6)根据步骤(3)与步骤(5)的探测效率计算结果，计算133Ba模拟源的效率传递因子。利用本发明的方法，能够模拟用于133Xe的γ谱仪测量的探测效率刻度，使得刻度更为准确，偏差明显更小。

主权项

1.一种133Xe模拟气体源的制备及探测效率校正方法，其特征在于，所述的方法包括如下步骤：(1)在每个低密度聚苯乙烯发泡材料颗粒表面添加0.5‑1μl含有乙烯醇分子的树脂胶，并滴加1‑2μl133Ba放射性标准溶液；(2)将步骤(1)得到的低密度聚苯乙烯发泡材料颗粒烘干、混匀后装入模拟源盒制成133Ba模拟源；(3)通过γ谱仪测量步骤(2)制备的133Ba模拟源的γ峰计数，并计算得到133Ba的探测效率；(4)制备133Xe气体源；(5)通过γ谱仪测量步骤(4)制备的133Xe气体源的γ峰计数，并计算得到133Xe的探测效率；(6)根据步骤(3)与步骤(5)的探测效率计算结果，计算133Ba模拟源的效率传递因子，从而可将133Ba模拟源的探测效率校正为133Xe的γ谱仪测量的探测效率。