[发明专利]平衡有虚设铜图案的嵌入PCB单元表面的半导体器件和方法有效

专利信息
申请号: 201810951738.4 申请日: 2014-09-05
公开(公告)号: CN109411410B 公开(公告)日: 2023-09-26
发明(设计)人: 林耀剑;陈康;高英华;沈一权 申请(专利权)人: 星科金朋私人有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L23/528
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 申屠伟进
地址: 新加坡*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 平衡有虚设铜图案的嵌入PCB单元表面的半导体器件和方法。半导体器件具有衬底。导电通孔穿过衬底而形成。多个第一接触焊盘在衬底的第一表面上方形成。多个第二接触焊盘在衬底的第二表面上方形成。虚设图案在衬底的第二表面上方形成。缺口在衬底的侧壁中形成。开口穿过衬底而形成。密封剂被沉积在开口中。绝缘层在衬底的第二表面上方形成。虚设开口在绝缘层中形成。半导体管芯被布置成邻近于衬底。密封剂被沉积在半导体管芯和衬底上方。衬底的第一表面包括比衬底的第二表面的宽度大的宽度。
搜索关键词: 平衡 虚设 图案 嵌入 pcb 单元 表面 半导体器件 方法
【主权项】:
1.一种制造半导体器件的方法,包括:提供衬底;在衬底的第一表面上方形成多个第一接触焊盘;在所述衬底的第二表面上方形成多个第二接触焊盘;在所述衬底的第二表面上方形成虚设图案,其中由所述第一接触焊盘覆盖的所述第一表面的面积近似等于由所述第二接触焊盘覆盖的所述第二表面的面积加上由所述虚设图案覆盖的所述第二表面的面积;将所述衬底设置在载体上;将半导体管芯设置在衬底的覆盖区之外的载体上;以及在所述半导体管芯和衬底上方沉积密封剂。
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