[发明专利]基于K空间变换的三维成像装置及其成像方法

摘要

一种基于K空间变换的三维成像方法，该方法采用沿着光轴方向的片状光照明样品，利用相同的片状光源与该照明光发生干涉；记录干涉图并从中获得被照明的样品在焦平面的复振幅信息(包括振幅和相位)；样品的空间频谱信息可以通过离散傅里叶变换获得；然后利用投影法计算出垂直于样品平面的空间频谱信息；再通过离散逆傅里叶变换，获得垂直于样品平面的强度信息；最后通过扫描，获取最终的样品三维结构信息。该方法具有较高的采集速率和较高的分辨率，特别是对于获取轴向信息，只需单次采集，即可实现成像。

主权项

1.一种基于K空间变换的三维成像装置，其特征在于：包括激光器(1)、透镜(2)、第一分光棱镜(3)、第一柱透镜(4)、光斑探测器(5)、计算机(6)、第二分光棱镜(7)、显微物镜(8)、供待测样品放置的一维电动位移台(9)、夹持器(10)、显微物镜组(11)、第一反射镜(12)、第二柱透镜(13)、第二反射镜(14)；上述元件的位置关系如下：所述激光器(1)发出激光经过透镜(2)成为一束平行光，通过第一分光棱镜(3)分束为透射光束和反射光束，即探测光束和参考光束，所述的探测光束经第一柱透镜(4)聚焦成为片状照明光，并依次经第二分光棱镜(7)和显微物镜(8)汇聚成片状更细的片状照明光照射在待测样品上，经待测样品反射后，原路返回，经显微物镜(8)透射后入射到第二分光棱镜(7)；所述的参考光束经第二反射镜(14)反射后，通过第二柱透镜(13)形成片状参考光，并由第一反射镜(12)反射后，依次经显微物镜组(11)和第二分光棱镜(7)透射后，与经第二分光棱镜(7)反射的探测光束共同入射到光斑探测器(5)，所述的计算机(6)分别与所述的光斑探测器(5)和一维电动位移台(9)相连。