[发明专利]一种光子筛像差分析方法在审

专利信息
申请号: 201810961551.2 申请日: 2018-08-22
公开(公告)号: CN109031684A 公开(公告)日: 2018-12-18
发明(设计)人: 成雪清;周鹏云;陈雅丽;唐霞梅;方艾黎;梁军;潘科;谭依玲 申请(专利权)人: 西南化工研究设计院有限公司
主分类号: G02B27/42 分类号: G02B27/42;G02B27/00
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 郭彩红
地址: 610225 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供了一种光子筛像差分析方法,从光子筛光瞳面相位和点扩散函数的数学关系出发,建立光子筛衍射模型,计算光子筛的点扩散函数;根据光子筛的点扩散函数逆推出光子筛光瞳面的相位,即光瞳面相位就是光子筛的等效波像差。与现有技术相比,本发明打破了惯性的思路,从光子筛光瞳面相位和点扩散函数的数学关系出发,从光子筛的点扩散函数逆推出光子筛光瞳面的相位。波像差是光学系统的重要评估指标,由其可以轻易推导出单项像差比如球差、慧差、象散、场曲和畸变。并且建立光子筛波像差模型也有助于光子筛和其他光学系统比如折射透镜的混合设计。
搜索关键词: 光子筛 点扩散函数 光瞳 波像差 像差 光学系统 数学关系 评估指标 折射透镜 畸变 推导 场曲 慧差 球差 象散 衍射 分析
【主权项】:
1.一种光子筛像差分析方法,从光子筛光瞳面相位和点扩散函数的数学关系出发,建立光子筛衍射模型,计算光子筛的点扩散函数;根据光子筛的点扩散函数逆推出光子筛光瞳面的相位,即光瞳面相位就是光子筛的等效波像差。
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