[发明专利]测量装置和测量方法有效
| 申请号： | 201810965650.8 | 申请日： | 2018-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN110401500B | 公开（公告）日： | 2022-07-01 |
| 发明（设计）人： | 文森特·阿巴迪;科贝特·罗威尔 | 申请（专利权）人： | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B17/17 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 陈慧 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于测量无线设备的杂散发射的测量装置和测量方法。测量装置包括至少两个天线，其中第一天线布置在无线设备附近。在第一步骤中，通过测量由第一天线接收的无线信号来确定与杂散发射有关的频率。在第二步骤中，通过第二设备测量杂散发射。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量被测设备(100)的杂散发射的测量装置(1)，所述测量装置(1)包括：第一天线(10)，适于从所述被测设备(100)接收第一无线信号，其中所述第一天线(10)布置在所述被测设备(100)附近；第二天线(20)，适于从所述被测设备(100)接收第二无线信号；以及测量设备(30)，耦合到所述第一天线(10)和所述第二天线(20)，并且适于识别所述第一无线信号的预定频率范围内的杂散发射，确定所述第一无线信号中与所识别的杂散发射有关的多个频率，在所述第一无线信号中所识别的杂散发射的所确定的多个频率处测量所述第二无线信号中的杂散发射。
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