[发明专利]测试线损的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201810973661.0 申请日: 2018-08-24
公开(公告)号: CN109150242B 公开(公告)日: 2021-09-07
发明(设计)人: 吕小磊;李英俊;杜佳男 申请(专利权)人: 北京小米移动软件有限公司
主分类号: H04B3/48 分类号: H04B3/48
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 代理人: 曹寒梅
地址: 100085 北京市海淀区清河*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开是关于一种测试线损的方法及装置,包括控制射频测试设备发送第一功率信号;通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值,所述第二功率信号为所述第一功率信号经过参考线和N‑SMA转接头后输出的信号;通过所述射频测试设备获取第三功率信号的功率值,所述第三功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线、连接器和测试线后输出的信号;根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值,确定所述测试线在第一频点的线损值,所述第一频点为所述第一功率信号的频点。通过测量得到的功率值得到线损值,根据本公开实施例的测试线损的方法及装置能够提高线损值的精度。
搜索关键词: 测试 方法 装置
【主权项】:
1.一种测试线损的方法,其特征在于,所述方法包括:控制射频测试设备发送第一功率信号;通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值,所述第二功率信号为所述第一功率信号经过参考线和N‑SMA转接头后输出的信号;通过所述射频测试设备获取第三功率信号的功率值,所述第三功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线、连接器和测试线后输出的信号,所述连接器为用于连接所述参考线和所述测试线的标准元器件;根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值,确定所述测试线在第一频点的线损值,所述第一频点为所述第一功率信号的频点。
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