[发明专利]微波表面电阻连续频谱测试装置有效
| 申请号： | 201810982741.2 | 申请日： | 2018-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN109239457B | 公开（公告）日： | 2021-04-23 |
| 发明（设计）人： | 曾成;陈柳;宁俊松;葛强;补世荣;王占平 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R23/16 | 分类号： | G01R23/16;G01R27/02 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 李朝虎 |
| 地址： | 610000 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了微波表面电阻连续频谱测试装置，包括固定介质柱和移动介质柱；所述固定介质柱设置于待测超导薄膜上，且移动介质柱连续运动并与固定介质柱产生相对位移，使得移动介质柱和固定介质柱之间电磁场变化。本发明微波表面电阻连续频谱测试装置，通过将固定介质柱和移动介质柱进行相对位移，实现了谐振频率的连续变化从而测得样品微波表面电阻的连续频率谱特性，实现准确连续无损的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 微波 表面电阻 连续 频谱 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.微波表面电阻连续频谱测试装置，其特征在于，包括固定介质柱(25)和移动介质柱(26)；所述固定介质柱(25)设置于待测超导薄膜(22)上，且移动介质柱(26)连续运动并与固定介质柱(25)产生相对位移，使得移动介质柱(26)和固定介质柱(25)之间电磁场变化。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学，未经电子科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810982741.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
