[发明专利]边界测试电路、存储器及边界测试方法在审
| 申请号： | 201810986092.3 | 申请日： | 2018-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN109192240A | 公开（公告）日： | 2019-01-11 |
| 发明（设计）人： | 杨正杰 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;阚梓瑄 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种边界测试电路、存储器及边界测试方法，本公开实施例中的边界测试电路包括多个边界寄存器电路，边界寄存器电路一端接收初始测试信号，其另一端向下一级边界寄存器电路传送初始测试信号；多个状态控制电路，状态控制电路的输入端接收边界寄存器电路中保存的初始测试信号，其控制端接收一状态控制信号，其输出端向待测试的集成电路发送实时测试信号；其中，实时测试信号是与初始测试信号相位相同或者相位相反的信号。本公开实施例提供的边界测试电路可以提高测试效率以及测试灵活性。 | ||
| 搜索关键词： | 边界测试 电路 边界寄存器 测试信号 状态控制电路 实时测试 存储器 状态控制信号 测试灵活性 测试效率 相位相反 一端接收 控制端 输出端 输入端 集成电路 传送 测试 发送 保存 | ||
【主权项】：
1.一种边界测试电路，用于测试集成电路，其特征在于，所述边界测试电路包括：多个边界寄存器电路，所述边界寄存器电路一端接收初始测试信号，其另一端向下一级边界寄存器电路传送所述初始测试信号；多个状态控制电路，所述状态控制电路的输入端接收所述边界寄存器电路中保存的初始测试信号，其控制端接收一状态控制信号，其输出端向待测试的所述集成电路发送实时测试信号；其中，所述实时测试信号是与所述初始测试信号相位相同或者相位相反的信号。
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