[发明专利]一种Sb70Se30/Si多层复合相变薄膜及其制备方法和应用在审
申请号: | 201810987180.5 | 申请日: | 2018-08-28 |
公开(公告)号: | CN109166965A | 公开(公告)日: | 2019-01-08 |
发明(设计)人: | 张丹;胡益丰;卢雅琳;朱小芹;孙月梅;邹华 | 申请(专利权)人: | 江苏理工学院 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 | 代理人: | 高姗 |
地址: | 213001 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及微电子材料技术领域,具体涉及一种Sb70Se30/Si多层复合相变薄膜及其制备方法和应用。Sb70Se30/Si多层复合相变薄膜中单层Sb70Se30薄膜和单层Si薄膜交替堆叠排列成多层膜结构,单层Sb70Se30薄膜的厚度范围为1~10nm,单层Si薄膜的厚度范围为1~10nm,所述Sb70Se30/Si复合相变薄膜总厚度为50~60nm。通过交替溅射沉积Sb70Se30层和Si层,在纳米量级复合而成。与传统的Ge2Sb2Te5相变薄膜材料相比,本发明的用于相变存储器的Sb70Se30/Si复合薄膜材料具有较快的晶化速度,能够大大提高PCRAM的存储速度;同时本发明的薄膜材料具有较高的晶化温度和激活能,从而能够极大的改善PCRAM的稳定性。 | ||
搜索关键词: | 薄膜 单层 多层复合 相变薄膜 制备方法和应用 晶化 复合薄膜材料 相变薄膜材料 多层膜结构 微电子材料 相变存储器 薄膜材料 复合相变 交替堆叠 交替溅射 纳米量级 传统的 激活能 沉积 存储 复合 | ||
【主权项】:
1.一种Sb70Se30/Si多层复合相变薄膜,其特征在于,所述Sb70Se30/Si多层复合相变薄膜中单层Sb70Se30薄膜和单层Si薄膜交替堆叠排列成多层膜结构。
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