[发明专利]一种光纤陀螺用光路性能测试系统有效
| 申请号： | 201810996752.6 | 申请日： | 2018-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN109059962B | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | 许保祥;于海成;张志永;王利超;冯文帅;李德桥;吴旭东 | 申请（专利权）人： | 北京航天时代光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 范晓毅 |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种光纤陀螺用光路性能测试系统，包括光源输出驱动模块(1)、光源输出模块(2)、光功率测试模块(3)、干涉仪光路损耗测试模块(4)、探测器电压检测模块(5)和数据处理显示模块(6)；该系统能够实现光源输出光功率、耦合器或Y波导或光纤环或干涉仪连接损耗、光路总损耗测试，操作简单，精度高，结果自动显示，方便检测光纤熔接过程损耗。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光纤 陀螺 用光 性能 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种光纤陀螺用光路性能测试系统，其特征在于：包括光源输出驱动模块(1)、光源输出模块(2)、光功率测试模块(3)、干涉仪光路损耗测试模块(4)、探测器电压检测模块(5)和数据处理显示模块(6)；所述光源输出驱动模块(1)用于向光源输出模块(2)输出驱动电流；所述光源输出模块(2)用于向光功率测试模块(3)和干涉仪光路损耗测试模块(4)输出光信号；所述光功率测试模块(3)能够测试光源输出模块(2)输出的光信号的光功率，也能够测试外部器件(0‑2)输出的光信号的光功率，光功率测试模块(3)将光源输出模块(2)输出的光信号的光功率或外部器件(0‑2)输出的光信号的光功率输出给数据处理显示模块(6)；所述干涉仪光路损耗测试模块(4)接收光源输出模块(2)输出的光信号，然后测试外部干涉仪光路(0‑3)的损耗；所述探测器电压检测模块(5)用于测试外部探测器(0‑4)的电压然后发送给干涉仪光路损耗测试模块(4)，所述干涉仪光路损耗测试模块(4)根据外部探测器(0‑4)的电压测试外部探测器(0‑4)的光功率；所述干涉仪光路损耗测试模块(4)将外部探测器(0‑4)的光功率和外部干涉仪光路(0‑3)的损耗均输出给数据处理显示模块(6)；所述数据处理显示模块(6)对光源输出模块(2)输出的光信号的光功率、外部器件(0‑2)输出的光信号的光功率、外部干涉仪光路(0‑3)的损耗、外部探测器(0‑4)的光功率进行比对显示。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航天时代光电科技有限公司，未经北京航天时代光电科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810996752.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
