[发明专利]X射线衍射测量中的测量结果的显示方法有效
| 申请号： | 201810996814.3 | 申请日： | 2018-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN109425626B | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 佐佐木明登;姬田章宏;池田由纪子;长尾圭悟 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 朱美红;刘林华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 目的是能够在视觉上明确且准确地识别德拜环的周向上的X射线信息与2θ角度位置的对应关系。本发明提供一种X射线衍射测量中的测量结果的显示方法，X射线衍射测量是向试样照射X射线并用X射线检测器检测由该试样衍射的X射线的测量，基于X射线检测器的输出数据，在坐标内，显示2θ－I分布图，从而形成一维衍射分布图，坐标在正交坐标轴的一个取2θ角度值，在正交坐标轴的另一个取X射线强度值；基于X射线检测器的输出数据，将由试样衍射的X射线在各2θ角度形成的多个德拜环的周向上的X射线强度数据在各2θ角度值以直线状显示，从而形成二维衍射图案；二维衍射图案和一维衍射分布图以两者的2θ角度值相互一致的方式排列显示。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 衍射 测量 中的 结果 显示 方法 | ||
【主权项】：
1.一种X射线衍射测量中的测量结果的显示方法，所述X射线衍射测量是向试样照射X射线并用X射线检测器检测由该试样衍射的X射线的测量，所述X射线衍射测量中的测量结果的显示方法的特征在于，基于前述X射线检测器的输出数据，在坐标内，显示2θ－I分布图，从而形成一维衍射分布图，所述坐标在正交坐标轴的一个上取2θ角度值，在正交坐标轴的另一个上取X射线强度值；基于前述X射线检测器的输出数据，将多个德拜环的周向上的X射线强度数据按照2θ角度值以直线状显示，从而形成二维衍射图案，所述多个德拜环是由试样衍射的X射线按照2θ角度形成的；将前述二维衍射图案和前述一维衍射分布图以两者的2θ角度值相互一致的方式排列显示。
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