[发明专利]一种扁平导体的电流测量方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 201811002342.1 申请日: 2018-08-30
公开(公告)号: CN108982944B 公开(公告)日: 2021-04-23
发明(设计)人: 李鹏;袁智勇;田兵;明哲;许爱东;王志明;李立浧 申请(专利权)人: 南方电网科学研究院有限责任公司
主分类号: G01R15/20 分类号: G01R15/20;G01R19/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 510663 广东省广州市萝岗区科*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种扁平导体的电流测量方法,只需要获取待测扁平导体在多个单轴磁传感器的磁敏感方向上产生的磁感应强度和各单轴磁传感器之间的相对距离,就可计算出待测扁平导体的电流值。对于各单轴磁传感器,只要保证任意两个单轴磁传感器的连线与待测扁平导体所在平面垂直,连线所在平面与待测扁平导体所在平面的交线位于待测扁平导体的中轴线处且与待测扁平导体的电流方向平行以及各单轴磁传感器的磁敏感方向均垂直于电流方向和连线即可。可以在避免固定一次回路导线与各单轴磁传感器的相对位置的情况下实现电流的测量,减小了安装难度。另外,本发明还公开了一种扁平导体的电流测量装置、设备及存储介质,效果如上。
搜索关键词: 一种 扁平 导体 电流 测量方法 装置 设备 存储 介质
【主权项】:
1.一种扁平导体的电流测量方法,其特征在于,包括:分别获取待测扁平导体在多个单轴磁传感器的磁敏感方向上产生的磁感应强度和各所述单轴磁传感器之间的相对距离;依据各所述磁感应强度和各所述相对距离计算所述待测扁平导体的电流值;其中,任意两个单轴磁传感器的连线与所述待测扁平导体所在平面垂直,所述连线所在平面与所述待测扁平导体所在平面的交线位于所述待测扁平导体的中轴线处且与所述待测扁平导体的电流方向平行以及各所述单轴磁传感器的磁敏感方向均垂直于所述电流方向和所述连线。
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