[发明专利]用于形成电路结构的装置和方法在审

专利信息
申请号: 201811003989.6 申请日: 2018-08-30
公开(公告)号: CN109509754A 公开(公告)日: 2019-03-22
发明(设计)人: P·泰萨里欧;J·B·德胡特;I·V·恰雷;方俊;M·帕克;谢志强;S·D·斯塔尔;D·奥斯特贝格;J·里斯;李健 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: H01L27/11524 分类号: H01L27/11524;H01L27/11551
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 王龙
地址: 美国爱*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 本申请案涉及用于形成电路结构的一种装置和一种方法。一种装置包括竖向延伸的晶体管阵列和邻近于并电耦合到所述阵列的所述竖向延伸的晶体管的电路结构。所述电路结构包括阶梯式结构,所述阶梯式结构包括竖直交替的层,所述竖直交替的层包括通过绝缘材料至少部分地彼此竖向分离的导电阶状物。操作性导电通路孔至少分别竖向地延伸穿过所述导电阶状物中的一个到所述竖直交替的层的底部,且分别电耦合到所述竖直交替的层下方的电子组件。虚设结构至少分别竖向地延伸穿过所述导电阶状物中的一个到所述竖直交替的层的所述底部。还公开了方法。
搜索关键词: 交替的 竖直 电路结构 导电 竖向 状物 阶梯式结构 竖向延伸 延伸穿过 电耦合 晶体管阵列 导电通路 电子组件 绝缘材料 晶体管 申请案 虚设 邻近
【主权项】:
1.一种用于形成电路结构的方法,其包括:形成不同组成第一材料和第二材料的竖直交替的层;形成阶梯式结构,其包括阶状物,所述阶状物分别包括在所述第一材料上方的所述第二材料,所述阶梯式结构包括在所述阶状物上方的绝缘材料;形成操作性导电通路孔,其至少分别竖向地延伸穿过所述绝缘材料、穿过所述阶状物中的一个并穿过所述竖直交替的层到所述竖直交替的层的底部;所述操作性导电通路孔分别电耦合到所述竖直交替的层下方的电子组件;形成虚设结构,其至少分别竖向地延伸穿过所述绝缘材料、穿过所述竖直交替的层并穿过所述阶状物中的一个到所述竖直交替的层的所述底部;和在形成所述虚设结构和所述操作性导电通路孔之后,将所述第二材料的至少大部分从所述阶梯式结构蚀刻掉。
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