[发明专利]轨迹预先测高补偿系统在审

专利信息
申请号: 201811008312.1 申请日: 2018-08-31
公开(公告)号: CN109175736A 公开(公告)日: 2019-01-11
发明(设计)人: 蔡侑庭;林仪婷;沈彦廷 申请(专利权)人: 苏州新代数控设备有限公司
主分类号: B23K26/70 分类号: B23K26/70;B23K37/00;B23K37/02;B05C5/02;B05C11/10
代理公司: 江苏圣典律师事务所 32237 代理人: 王玉国
地址: 215021 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及轨迹预先测高补偿系统,包括:工件平台,用以承载一待加工工件;测高探针单元,设置于一承载平台上,且测高探针单元用以量测待加工工件的一平面高度;加工头,承载平台通过一连杆机构枢接于加工头,且连杆机构可沿着加工头旋转;轴控单元,用以分别设定连杆机构与承载平台的至少一个机构参数,轴控单元用以控制测高探针单元在待加工工件的加工路径上预先量测待加工工件的平面高度,并控制加工头依据测高探针单元所预先量测到待加工工件在加工路径上的平面高度以调整加工高度及旋转角度,在加工路径上对待加工工件进行加工。沿加工轨迹进行量测加工件的高度,对待加工工件加工,降低加工时间,减少加工头与待加工工件撞击可能性。
搜索关键词: 待加工工件 测高 加工头 探针单元 量测 承载平台 加工路径 补偿系统 加工工件 连杆机构 轴控单元 加工 工件平台 机构参数 加工轨迹 杆机构 加工件 枢接 承载
【主权项】:
1.轨迹预先测高补偿系统,其特征在于:包括:一工件平台,用以承载一待加工工件;一测高探针单元,设置于一承载平台上,且测高探针单元用以量测待加工工件的一平面高度;一加工头,承载平台通过一连杆机构枢接于加工头,且连杆机构可沿着加工头旋转;一轴控单元,用以分别设定连杆机构与承载平台的至少一个机构参数,轴控单元用以控制测高探针单元在待加工工件的加工路径上预先量测待加工工件的平面高度,并控制加工头依据测高探针单元所预先量测到待加工工件在加工路径上的平面高度以调整加工高度及旋转角度,在加工路径上对待加工工件进行加工。
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