[发明专利]一种DRAM PUF测试系统及其DRAM PUF提取方法有效

专利信息
申请号: 201811009811.2 申请日: 2018-08-31
公开(公告)号: CN109299622B 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: 李冰;徐叶菡;熊琅钰;陈帅;董乾;刘勇;张林;王亚洲;沈克强;王刚;赵霞 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G06F21/73 分类号: G06F21/73
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 朱桢荣
地址: 214000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种DRAM PUF测试系统,包括DRAM、CPU端和GPU端,CPU端包括UART数据获取模块和Mailbox数据发送模块,GPU端包括Mailbox数据接收模块、DRAM初始化模块、DRAM刷新控制模块、CPU代码手动刷新模块和DRAM内容读取模块;本发明还公开了一种DRAM PUF提取方法,实现在启动阶段与运行阶段均进行DRAM PUF的提取。尤其在运行阶段,在DRAM停止刷新的情况下,能够通过手动刷新保证原有运行代码的不丢失,进行正常的DRAM PUF测试流程,并通过串口打印最终结果。
搜索关键词: 一种 dram puf 测试 系统 及其 提取 方法
【主权项】:
1.一种基于Raspberry Pi B+的DRAM PUF测试系统,其特征在于,包括DRAM、CPU端和GPU端,CPU端包括UART数据获取模块和Mailbox数据发送模块,GPU端包括Mailbox数据接收模块、DRAM初始化模块、DRAM刷新控制模块、CPU代码手动刷新模块和DRAM内容读取模块;其中,DRAM初始化模块,用于在启动阶段以及运行阶段对指定待测试DRAM区域进行初始化操作,将全0或全1写入待测试DRAM区域;DRAM刷新控制模块,用于控制全部DRAM区域的刷新频率,通过对DRAM刷新控制模块中的DRAM控制寄存器写入刷新控制字来实现启用或禁止全部DRAM区域的刷新;UART数据获取模块,用于接收用户输入的测试参数并输出至Mailbox数据发送模块,测试参数包括待测试DRAM区域、DRAM初始值和延时时长;Mailbox数据发送模块,用于在CPU端利用Mailbox发送测试参数给GPU端,并通知GPU端开始PUF测试;Mailbox数据接收模块,用于在GPU端利用Mailbox接收CPU端发送的测试参数,并将待测试DRAM区域和DRAM初始值传递至DRAM初始化模块,延时时长传递至DRAM刷新控制模块,待测试DRAM区域传递至DRAM内容读取模块;CPU代码手动刷新模块,用于在DRAM停止刷新并延时等待期间刷新CPU代码存储区域;DRAM内容读取模块,用于在延时等待完毕,DRAM刷新控制模块恢复DRAM刷新后,读取待测试DRAM区域的全部存储内容,并通过串口输出。
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