[发明专利]一种用于植被微弱荧光被动探测的高分辨率、高数值孔径成像光谱仪有效
申请号: | 201811012191.8 | 申请日: | 2018-08-31 |
公开(公告)号: | CN108896175B | 公开(公告)日: | 2020-05-05 |
发明(设计)人: | 于磊;陈素娟;薛辉;徐明明;罗晓乐;沈威;武艺 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
主分类号: | G01J3/18 | 分类号: | G01J3/18;G01J3/16 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 杨学明;邓治平 |
地址: | 230031 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于植被微弱荧光探测的高分辨率、高数值孔径的成像光谱仪,该成像仪依次设置狭缝、第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜、第五透镜、第六透镜、平面透射光栅、第八透镜、第九透镜、第十透镜、第十一透镜、第十二透镜、第十三透镜和像面。其中第一至第六透镜组成准直镜组;第八至第十三透镜组成聚焦镜组。孔径光阑位于平面透射光栅上;准直镜组将狭缝出射光投射在平面透射光栅上,平面透射光栅将准直光进行色散,并经聚焦镜组形成连续色散光谱成像投射到像面上。本发明光学系统数值孔径高,光谱分辨率高,组成元件简单易加工制造,易于装配,成像质量优越,全视场全波段均方根点列图半径值小于6.5μm,成像畸变低于0.5%。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 植被 微弱 荧光 被动 探测 高分辨率 数值孔径 成像 光谱仪 | ||
【主权项】:
1.一种用于植被微弱荧光探测的高分辨率、高数值孔径的成像光谱仪,其特征在于:包括依次设置的狭缝(1)、第一透镜(2)、第二透镜(3)、第三透镜(4)、第四透镜(5)、第五透镜(6)、第六透镜(7)、平面透射光栅(8)、第八透镜(9)、第九透镜(10)、第十透镜(11)、第十一透镜(12)、第十二透镜(13)、第十三透镜(14)和像面(15),其中第一透镜(2)、第二透镜(3)、第三透镜(4)、第四透镜(5)、第五透镜(6)和第六透镜(7)组成准直镜组;第八透镜(9)、第九透镜(10)、第十透镜(11)、第十一透镜(12)、第十二透镜(13)和第十三透镜(14)组成聚焦镜组;孔径光阑位于平面透射光栅(8)上;准直镜组将狭缝(1)出射光投射在平面透射光栅(8)上,平面透射光栅(8)将准直光进行色散,并经聚焦镜组形成连续色散光谱成像投射到像面上。
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