[发明专利]一种用于植被微弱荧光被动探测的高分辨率、高数值孔径成像光谱仪有效

专利信息
申请号: 201811012191.8 申请日: 2018-08-31
公开(公告)号: CN108896175B 公开(公告)日: 2020-05-05
发明(设计)人: 于磊;陈素娟;薛辉;徐明明;罗晓乐;沈威;武艺 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01J3/18 分类号: G01J3/18;G01J3/16
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明;邓治平
地址: 230031 *** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种用于植被微弱荧光探测的高分辨率、高数值孔径的成像光谱仪,该成像仪依次设置狭缝、第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜、第五透镜、第六透镜、平面透射光栅、第八透镜、第九透镜、第十透镜、第十一透镜、第十二透镜、第十三透镜和像面。其中第一至第六透镜组成准直镜组;第八至第十三透镜组成聚焦镜组。孔径光阑位于平面透射光栅上;准直镜组将狭缝出射光投射在平面透射光栅上,平面透射光栅将准直光进行色散,并经聚焦镜组形成连续色散光谱成像投射到像面上。本发明光学系统数值孔径高,光谱分辨率高,组成元件简单易加工制造,易于装配,成像质量优越,全视场全波段均方根点列图半径值小于6.5μm,成像畸变低于0.5%。
搜索关键词: 一种 用于 植被 微弱 荧光 被动 探测 高分辨率 数值孔径 成像 光谱仪
【主权项】:
1.一种用于植被微弱荧光探测的高分辨率、高数值孔径的成像光谱仪,其特征在于:包括依次设置的狭缝(1)、第一透镜(2)、第二透镜(3)、第三透镜(4)、第四透镜(5)、第五透镜(6)、第六透镜(7)、平面透射光栅(8)、第八透镜(9)、第九透镜(10)、第十透镜(11)、第十一透镜(12)、第十二透镜(13)、第十三透镜(14)和像面(15),其中第一透镜(2)、第二透镜(3)、第三透镜(4)、第四透镜(5)、第五透镜(6)和第六透镜(7)组成准直镜组;第八透镜(9)、第九透镜(10)、第十透镜(11)、第十一透镜(12)、第十二透镜(13)和第十三透镜(14)组成聚焦镜组;孔径光阑位于平面透射光栅(8)上;准直镜组将狭缝(1)出射光投射在平面透射光栅(8)上,平面透射光栅(8)将准直光进行色散,并经聚焦镜组形成连续色散光谱成像投射到像面上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院合肥物质科学研究院,未经中国科学院合肥物质科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811012191.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top