[发明专利]基于双自准直仪的高精度测角误差检测装置及其检测方法有效

专利信息
申请号: 201811020561.2 申请日: 2018-09-03
公开(公告)号: CN108827190B 公开(公告)日: 2020-07-24
发明(设计)人: 于海;万秋华;赵长海;梁立辉;杜颖财 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 本申请公开了一种基于双自准直仪的高精度测角误差检测装置及其检测方法,包括:被测光电编码器;多面棱体,位于被测光电编码器上方且与被测光电编码器同轴转动;第一自准直仪和第二自准直仪,分别对准多面棱体的对径面,用于同时测量出被测光电编码器的测角误差值;处理器,用于读取测角误差值,并通过预设误差计算算法对其进行处理,以获取被测光电编码器的高精度测角误差结果。该装置同时采集两个自准直仪对被测光电编码器的误差测量结果,根据预设误差计算算法完成对被测光电编码器的高精度误差检测,消除了由于多面棱体不水平导致的检测不准确,能够准确的实现对高精度光电编码器误差检测,检测方法简单,且极大地提高了检测精度。
搜索关键词: 基于 准直仪 高精度 误差 检测 装置 及其 方法
【主权项】:
1.一种基于双自准直仪的高精度测角误差检测装置,其特征在于,包括:被测光电编码器;多面棱体,位于所述被测光电编码器上方且与所述被测光电编码器同轴转动;第一自准直仪和第二自准直仪,分别对准所述多面棱体的对径面,用于同时测量出所述被测光电编码器的测角误差值;处理器,分别与所述第一自准直仪和所述第二自准直仪连接,用于读取所述第一自准直仪和所述第二自准直仪同时测量出的测角误差值,并通过预设误差计算算法对读取的所述测角误差值进行处理,以获取所述被测光电编码器的高精度测角误差结果。
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