[发明专利]基于显示面板缺陷检测的快速自动曝光方法及系统有效

专利信息
申请号: 201811037816.6 申请日: 2018-09-06
公开(公告)号: CN109167928B 公开(公告)日: 2020-11-03
发明(设计)人: 余梦露;张胜森;李苗;郑增强 申请(专利权)人: 武汉精测电子集团股份有限公司
主分类号: H04N5/235 分类号: H04N5/235;H04N5/202;G03B7/00
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 黄行军
地址: 430070 湖北省武汉市洪*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及面板检测技术领域,具体涉及一种基于显示面板缺陷检测的快速自动曝光方法及系统。从显示屏画面图像中提取屏幕ROI区域;根据显示屏屏幕亮度和画面灰阶的gamma关系计算显示面板待检测画面的曝光参数;根据计算出的显示面板待检测画面的曝光参数调节相机曝光时间和增益,采集屏幕相应待检测画面,判断屏幕亮度是否合格;若屏幕亮度合格,则切换下一个待检测画面进行曝光参数计算。制作gamma画面计算屏幕实际gamma参数,再利用实际的屏幕gamma参数预测各灰阶画面的相机曝光参数,可以有效的一次性达到自动曝光效果,运算速度快,实时性强。
搜索关键词: 基于 显示 面板 缺陷 检测 快速 自动 曝光 方法 系统
【主权项】:
1.一种基于显示面板缺陷检测的快速自动曝光方法,其特征在于:步骤1:采集显示屏画面图像,并从显示屏画面图像中提取ROI区域;步骤2:根据显示屏屏幕亮度和画面灰阶的gamma关系计算显示面板待检测画面的曝光参数;步骤3:根据显示面板待检测画面的曝光参数调节相机,采集屏幕检测画面,判断屏幕亮度是否合格;步骤4:若屏幕亮度不合格,则重复步骤2和3若屏幕亮度合格,则切换下一个检测画面,重复步骤1~4直至所有检测画面处理完毕。
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