[发明专利]通过拉曼光谱分析确定碳涂敷金属基板上的亚微米碳涂层的厚度有效
| 申请号： | 201811042984.4 | 申请日： | 2018-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN109489567B | 公开（公告）日： | 2021-03-09 |
| 发明（设计）人： | R·S·库克雷贾;M·M·泰斯马;D·B·哈达德 | 申请（专利权）人： | 通用汽车环球科技运作有限责任公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 林伟峰 |
| 地址： | 美国密*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于确定碳涂敷金属基板的亚微米碳的厚度的方法包括在碳涂敷金属基板的目标位置处进行拉曼光谱分析，以获得该目标位置的拉曼位移光谱。在目标位置处获得的拉曼位移光谱随后转换成亚微米碳涂层在目标位置处的计算厚度。将拉曼位移光谱转换成亚微米碳涂层在目标位置处的计算厚度的步骤可涉及引用已在预定波数范围下建立在(1)从包括具有验证厚度的亚微米碳涂层的一系列基准板中的每一个获得的拉曼碳信号的积分后强度与(2)该系列基准板的亚微米碳涂层的验证厚度之间的线性关系。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 光谱分析 确定 碳涂敷 金属 基板上 微米 涂层 厚度 | ||
【主权项】：
1.一种用于确定碳涂敷金属基板的亚微米碳涂层的厚度的方法，所述方法包括：提供所述碳涂敷金属基板，所述碳涂敷金属基板包括金属基板以及覆盖在所述金属基板上的外露亚微米碳涂层；在所述碳涂敷金属基板的目标位置处进行拉曼光谱分析，以获得所述目标位置的拉曼位移光谱；以及将在所述目标位置处获得的所述拉曼位移光谱转换成所述亚微米碳涂层在所述目标位置处的计算厚度。
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