[发明专利]一种自旋晶格弛豫时间测定方法及装置有效
| 申请号： | 201811049017.0 | 申请日： | 2018-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN109932381B | 公开（公告）日： | 2021-04-27 |
| 发明（设计）人： | 舒婕;王宁;朱惠芳;徐凌云;严丽娟 | 申请（专利权）人： | 苏州大学 |
| 主分类号： | G01N24/08 | 分类号： | G01N24/08 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 常亮 |
| 地址： | 215123 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种自旋晶格弛豫时间测定方法及装置，包括：基于预设脉冲序列对待测样品进行测定，获得伪二维谱图的原始数据；对傅里叶变换后的伪二维谱图进行相位和基线校正，获得校正后的二维谱图；在校正后的伪二维谱图中，对待测样品中的各基团的 |
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| 搜索关键词： | 一种 自旋 晶格 弛豫时间 测定 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种自旋晶格弛豫时间测定方法，其特征在于，包括：基于预设脉冲序列在固体核磁共振波谱仪中对待测样品进行测定，获得伪二维谱图的原始数据，其中，所述待测样品中包括若干个基团且所述基团中包含13C原子，所述预设脉冲序列包括第一脉冲序列单元和第二脉冲序列单元，基于所述第一脉冲序列单元实现对待测样品中分子局部运动性较强的部分或不含1H部分的测定，基于所述第二脉冲序列单元实现对待测样品中含氢的分子局部运动性较弱的刚性部分的测定；对所述伪二维谱图的原始数据进行傅立叶变换，并对变换后的伪二维谱图进行相位和基线校正，获得校正后的伪二维谱图；在所述校正后的伪二维谱图中，对所述待测样品中的各基团的13C谱峰进行积分，获得不同延迟时间所对应的谱峰的积分面积；对所述不同延迟时间所对应的谱峰的积分面积随延迟时间变化的数据进行拟合，获得所述待测样品中各基团所对应的13C的自旋晶格弛豫时间。
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