[发明专利]用于电子元件的检测装置和利用其进行故障测试的方法有效
| 申请号： | 201811056543.X | 申请日： | 2018-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN109326315B | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 韦拓明 | 申请（专利权）人： | OPPO(重庆)智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 | 代理人： | 任哲夫 |
| 地址： | 401120 重庆*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明提供了用于电子元件的检测装置和利用其进行故障测试的方法。该检测装置包括：第一固定部件，所述第一固定部件上具有存储器安装件，所述存储器安装件用于可拆卸地设置存储器；主板，所述主板对应设置在所述存储器的一侧，并与所述存储器电连接；结果显示单元，所述结果显示单元与所述主板电连接。该检测装置结构简单，成本较低，易于工业化生产，能够精确并可靠地检测出所述存储器和/或主板是否出现故障；在检测出所述存储器和/或主板是否出现故障后，易于对出现故障的所述存储器和/或主板进行更换，节约成本，且可以使得包括所述存储器和/或主板的电子产品的良率显著提高。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电子元件 检测 装置 利用 进行 故障测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于电子元件的检测装置，其特征在于，包括：第一固定部件，所述第一固定部件上具有存储器安装件，所述存储器安装件用于可拆卸地设置存储器；主板，所述主板对应设置在所述存储器的一侧，并与所述存储器电连接；结果显示单元，所述结果显示单元与所述主板电连接。
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