[发明专利]光学式传感器及检测方法在审
| 申请号： | 201811060000.5 | 申请日： | 2018-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN109729289A | 公开（公告）日： | 2019-05-07 |
| 发明（设计）人： | 安藤信太郎;饭田雄介;清水彻 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | H04N5/335 | 分类号： | H04N5/335;H04N5/351;G01J1/42 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨贝贝;臧建明 |
| 地址： | 日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学式传感器及检测方法，能抑制环境光的影响而检测对象物。光学式传感器(100)，检测对象物(TA)，包括：受光部(20)，多个像素分别接受光，获得表示每个像素的受光量的受光分布信号；A/D转换部(30)，针对每个像素将受光分布信号转换成数字信号；累计部(55)，针对每个像素来累计多个经转换的受光分布信号；以及判定部(58)，根据经累计的受光分布信号来判定对象物(TA)的有无。 | ||
| 搜索关键词： | 分布信号 受光 像素 光学式传感器 检测对象 数字信号 对象物 环境光 判定部 受光部 受光量 检测 转换 判定 | ||
【主权项】：
1.一种光学式传感器，检测对象物，包括：受光部，多个像素分别接受光，获得表示每个所述像素的受光量的受光分布信号；模拟/数字转换部，针对每个所述像素将所述受光分布信号转换成数字信号；累计部，针对每个所述像素来累计多个经转换的所述受光分布信号；以及判定部，根据经累计的所述受光分布信号来判定所述对象物的有无。
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