[发明专利]工艺波动测试方法及装置在审
| 申请号： | 201811073871.0 | 申请日： | 2018-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN109243344A | 公开（公告）日： | 2019-01-18 |
| 发明（设计）人： | 卓恩宗;莫琼花 | 申请（专利权）人： | 惠科股份有限公司;重庆惠科金渝光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 梁香美 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种工艺波动测试方法及装置。在一个实施例中，所述工艺波动测试方法包括：获得待测试显示基板的测试数据；从所述测试数据中获取目标参数组；计算得到所述目标参数组中的每项参数组的平均值及离散程度数；根据每项参数组的平均值及离散程度数计算得到多个波动参数点；将所述多个波动参数点与根据标准参数组计算得到的多个标准参数点进行对比，获得工艺波动测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 工艺波动 参数组 测试方法及装置 标准参数 波动参数 测试数据 测试 获取目标 目标参数 显示基板 | ||
【主权项】：
1.一种工艺波动测试方法，其特征在于，包括：获得待测试显示基板的测试数据；从所述测试数据中获取目标参数组；计算得到所述目标参数组中的每项参数组的平均值及离散程度数；根据每项参数组的平均值及离散程度数计算得到多个波动参数点；将所述多个波动参数点与根据标准参数组计算得到的多个标准参数点进行对比，获得工艺波动测试结果。
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