[发明专利]一种SSD开发性能的测试方法、装置及相关设备在审
| 申请号： | 201811081266.8 | 申请日： | 2018-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN109062808A | 公开（公告）日： | 2018-12-21 |
| 发明（设计）人： | 高静 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 250101 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种SSD开发性能的测试方法，包括当接收到仿真host端发送的写命令和待写入数据时，根据所述写命令将所述待写入数据保存至数组，获得标准数据，并根据所述写命令将所述待写入数据写入SSD；当接收到所述仿真host端发送的读命令时，根据所述读命令对所述SSD进行读取获得读取数据；调取所述标准数据对所述读取数据进行验证，若验证失败，则发出错误提示；该测试方法可快速定位FTL算法中的bug，有效缩短了开发周期，进一步提高了SSD开发性能的测试效率。本申请还公开了一种SSD开发性能的测试装置、系统以及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 待写入数据 写命令 标准数据 读命令 测试 计算机可读存储介质 开发 读取 发送 测试效率 测试装置 错误提示 开发周期 快速定位 验证失败 调取 数组 算法 申请 写入 验证 保存 | ||
【主权项】：
1.一种SSD开发性能的测试方法，其特征在于，包括：当接收到仿真host端发送的写命令和待写入数据时，根据所述写命令将所述待写入数据保存至数组，获得标准数据，并根据所述写命令将所述待写入数据写入SSD；当接收到所述仿真host端发送的读命令时，根据所述读命令对所述SSD进行读取获得读取数据；调取所述标准数据对所述读取数据进行验证，若验证失败，则发出错误提示。
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