[发明专利]基于温差均衡的数据恢复方法以及系统、存储介质有效
| 申请号： | 201811081438.1 | 申请日： | 2018-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN109460316B | 公开（公告）日： | 2020-12-11 |
| 发明（设计）人： | 弗兰克·陈;颜巍;高兰娟 | 申请（专利权）人： | 至誉科技(武汉)有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/14 | 分类号： | G06F11/14 |
| 代理公司： | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人： | 张凯 |
| 地址： | 430223 湖北省武汉市武汉东湖新技*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供基于温差均衡的数据恢复方法，涉及数据存储装置以及方法，属于数据存储的方法领域方法包括以下步骤：将存储芯片划分为多个存储区域，所述区域包含多个存储单位；随着数据被写入到存储单位中，当某个存储单位被写满时，就记录该时刻对应的温度T1，并被作为元数据写入存储，得到每个存储单位对应的写入温度T1；当环境温度达到设定的理想写入温度时，就计算某个存储区域中所有的存储单位的写入温度T1与该环境温度的差值的总和，得到所有的存储区域的差值总和；以差值总和的大小进行排序，从大到小依次对所有的存储区域中的数据进行误码率检验和数据恢复。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 温差 均衡 数据 恢复 方法 以及 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种基于温差均衡的数据恢复方法，其特征在于，包括以下步骤：将存储芯片划分为多个存储区域，所述区域包含多个存储单位；随着数据被写入到存储单位中，当某个存储单位被写满时，就记录该时刻对应的温度T1，并被作为元数据写入存储，得到每个存储单位对应的写入温度T1；当环境温度达到设定的理想写入温度时，就计算每个存储区域中所有的存储单位的写入温度T1与该环境温度的差值的总和，得到所有的存储区域的差值总和；以差值总和的大小进行排序，从大到小依次对所有的存储区域中的数据进行误码率检验和数据恢复。
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