[发明专利]一种全量程物体表面光谱反射率测试方法有效
| 申请号： | 201811082019.X | 申请日： | 2018-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN109187376B | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 战永刚;战捷;程明望 | 申请（专利权）人： | 深圳市三束镀膜技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/27 | 分类号： | G01N21/27 |
| 代理公司： | 深圳市神州联合知识产权代理事务所(普通合伙) 44324 | 代理人： | 王志强 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种全量程物体表面反射率测试方法，该方法首先利用100％反射率标定基准片确定其指定波长的信号强度值E1n和归一系数C1n，其次利用低反射率标定基准片确定其指定波长的信号强度值为Ekn和归低系数Ckn，测定工件实际的可见光区指定波长测试点的信号强度En后，根据En所落入的范围确定赋予C1n和Ckn的采信权重，求出归标系数Cn，最终确定指定波长位置Rn。测试人员实现利用基准标定片确定归一系数和归低系数，并进一步确定归标系数Cn。整个过程测试数据误差小，适用全量程，操作方便快捷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 量程 物体 表面 光谱 反射率 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种全量程物体表面光谱反射率测试方法，其特征在于，该方法包括有以下步骤：S1：确定归一系数：将100％反射率标定基准片放置在光谱仪的载物架上，测得该基准片的可见光区指定波长测试点的信号强度值E1n，并根据E1n推算出归一系数C1n；S2：确定归低系数：将低反射率标定基准片放置在光谱仪的载物架上，测得该基准片可见光区指定波长测试点的信号强度值为Ekn，并根据Ekn推算出归低系数Ckn；S3：测定工件实际的可见光区指定波长测试点的信号强度：将实际待测工件放置在光谱仪载物架上，并测得该实际待测工件可见光区指定波长测试点的信号强度值En；S4：确定归标系数：定义W1是该指定波长测试点采信C1n的权重，定义Wk为该指定波长测试点采信Ckn的权重，且W1+Wk＝1；定义Eul为采信上限，定义Ell为采信下限，且0
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