[发明专利]一种估计电子件可靠性参数的方法

摘要

本发明公开了一种估计电子件可靠性参数的方法，包括以下步骤：步骤一：确定候选的寿命分布参数，根据已有电子件可靠性数据分布规律，初步确定待估计电子件寿命均值参数的下限值μmin和上限值μmax，在确定的参数区间内，等间隔生成n个候选分布参数，其中，候选分布参数中，相邻参数之间的步长相等为d1，根据待测电子件均值参数的步长依次计算出n个候选均值参数μj，其中1≤j≤n；步骤二：遍历寿命均值参数μj计算似然值Lj，寻找最大似然值记为LM，则最大似然值LM对应的寿命分布参数μM即为均值参数的估计值。本发明利用“少量的可靠性试验数据+在产品研制、生产、使用等阶段产生的大量数据”，估算产品寿命的分布规律。

主权项

1.一种估计电子件可靠性参数的方法，其特征在于，针对寿命服从指数分布的电子部件开展可靠性参数估计，包括以下步骤：步骤一：确定候选的寿命分布参数，根据已有电子件可靠性数据分布规律，初步确定待估计电子件寿命均值参数的下限值μmin和上限值μm耀x，在确定的参数区间内，等间隔生成n个候选分布参数，其中，n个候选分布参数中，相邻参数之间的步长相等为d1，根据待估电子件均值参数的步长依次计算出n个候选均值参数μj，其中1≤j≤n；步骤二：遍历寿命均值参数μj计算似然值Lj，对于每个寿命均值参数μj，针对一组包含m个电子元件检测信息的数据组，根据第i个检测信息所包含的在Ti时刻的状态信息Fi确定其对应的计算系数Wi，依据m个检测数据不断迭代更新似然值Lj，迭代之初，设定每个候选参数对应的似然值初始值为0，在每个候选参数所对应的迭代完毕后的似然值中，寻找最大值即LM，则最大似然值LM对应的寿命分布参数μM即为均值参数的估计值。