[发明专利]一种硒化铟晶体管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201811087125.7 申请日: 2018-09-18
公开(公告)号: CN109300989B 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 韩琳;姜建峰;张宇 申请(专利权)人: 山东大学
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/336
代理公司: 北京君泊知识产权代理有限公司 11496 代理人: 王程远
地址: 250199 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种硒化铟晶体管及其制造方法,该晶体管中将高k的氧化铪与硒化铟夹在双层的聚合物PMMA中,使得沟道的界面情况得到极大的改善,使得硒化铟晶体管可以实现高场效应电子迁移率和极小的滞后,极大提高了器件性能。
搜索关键词: 一种 硒化铟 晶体管 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种硒化铟晶体管的制造方法,包括如下步骤:准备半导体衬底;在半导体衬底上形成栅极;在栅极上沉积复合介质层;在复合介质层上形成二维半导体层;在半导体层上形成源/漏电极;在半导体层和源/漏电极上形成第三介质层,形成硒化铟晶体管;其中,该复合介质层包括第一介质层和第二介质层;该第一介质层为二氧化铪,该第二介质层为PMMA;该二维半导体层为InSe;该第三介质层为PMMA。
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