[发明专利]一种双能X射线测量地层密度测井装置和方法

摘要

本发明公开一种双能X射线测量地层密度测井装置和方法，具体涉及石油及天然气勘探领域。该装置采用X射线管、电子加速管、监测探测器、远近两个NaI探测器。首先，利用监测探测器确保X射线产额稳定。然后，利用X射线在地层衰减原理，建立地层电子密度与高、低能窗计数的响应关系，从而计算精确的地层电子密度，通过地层电子密度与地层密度关系进一步计算地层密度。本发明通过采用监测探测器确保X射线产额稳定等手段，同现有方法相比获得了更为准确的计算基础，从而可以计算出准确的地层密度。另外，本发明装置还克服了对化学源的使用，更加健康、安全和环保，并有效降低了对电子加速管和探测器等的工艺要求。

主权项

1.一种双能X射线测量地层密度测井装置，其特征在于：包括筒状壳体，在筒状壳体的下部设置有X射线源控制系统，在筒状壳体的上部设置有探测器接收系统；所述X射线源控制系统包括X射线可控源、电子加速管和监测探测器，X射线可控源与电子加速管连接，电子加速管通过源准直孔与地层相连通，所述监测探测器还通过监测准直孔连接源准直孔，在监测探测器的外侧包裹钨屏蔽材料；所述探测器接收系统包括近探测器和远探测器，近探测器位于X射线可控源和远探测器之间，近探测器通过近准直孔与地层连通，远探测器通过远准直孔与地层连通，在近探测器和远探测器之间设置有钨屏蔽材料；在监测探测器、近探测器和远探测器上均配置有光电倍增管。