[发明专利]一种大型紧耦合阵列有源驻波的快速评估方法有效

专利信息
申请号: 201811097148.6 申请日: 2018-09-20
公开(公告)号: CN109165466B 公开(公告)日: 2023-05-19
发明(设计)人: 余贤;姜海玲;张海福 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第五十四研究所
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20
代理公司: 河北东尚律师事务所 13124 代理人: 王文庆
地址: 050081 河北省石家*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种大型紧耦合阵列有源驻波的快速评估方法。其方法为:1)根据波长系数典型值计算大型紧耦合阵列对应的最小特征阵的规模。2)在电磁仿真软件中建立最小特征阵模型,其然后对最小特征阵进行全波仿真,得到各个阵元的有源驻波。3)对最小特征阵规模进行验证。4)大型阵列与最小特征阵中相应位置的阵元性能进行等效,中心阵元性能可与周期边界阵元等效,从而得到大型阵列中各个阵元的有源驻波。本发明在避免对大阵进行全波仿真解决计算时间和资源受限问题的同时可以较为快速、准确地得到大型紧耦合阵列各个阵元的有源驻波,从而指导大型紧耦合阵列的设计。
搜索关键词: 一种 大型 耦合 阵列 有源 驻波 快速 评估 方法
【主权项】:
1.一种大型紧耦合阵列有源驻波的快速评估方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,根据具体的天线形式及布阵形式的波长系数典型值计算大型紧耦合阵列对应的最小特征阵的规模,其中最小特征阵是指反映大型紧耦合阵列性能的最小规模阵列;步骤2,在电磁仿真软件中建立最小特征阵模型,然后对最小特征阵进行全波仿真,得到各个阵元的有源驻波;并对大型紧耦合阵列中的任一单元天线设置周期边界,仿真得到其驻波;其中,最小特征阵模型中的单元天线形式、阵元间距及布阵形式均与大型紧耦合阵列相同;步骤3,对最小特征阵规模进行验证,若验证符合要求,则转入步骤4,否则,调整波长系数,转入步骤1;步骤4,将大型紧耦合阵列的边缘阵元性能分别与最小特征阵中相应位置的阵元性能进行等效,将大型紧耦合阵列的中心阵元性能均与周期边界阵元性能进行等效,得到大型紧耦合阵列中各个阵元的有源驻波;完成大型紧耦合阵列有源驻波的快速评估。
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