[发明专利]用于同时测量弯曲应变和压力的传感器有效
申请号: | 201811098684.8 | 申请日: | 2018-09-19 |
公开(公告)号: | CN110926660B | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 潘曹峰;鲍容容;付胜 | 申请(专利权)人: | 北京纳米能源与系统研究所 |
主分类号: | G01D21/02 | 分类号: | G01D21/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 101400 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于同时测量弯曲应变和压力的传感器,所述传感器包括从下到上依次设置的第一支撑层、金属薄膜层、介质层、第二支撑层以及电极层;所述金属薄膜层嵌置在所述第一支撑层与所述介质层之间,用于感应弯曲应变,所述电极层与所述金属薄膜层平行地设置,用于与所述金属薄膜层形成电容式压力传感器。根据本发明的传感器能够同时检测压力和弯曲应变,其制作过程无毒且无需掩膜,节省成本。 | ||
搜索关键词: | 用于 同时 测量 弯曲 应变 压力 传感器 | ||
【主权项】:
暂无信息
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