[发明专利]一种芯片引脚光学检测系统

摘要

本发明公开了一种芯片引脚光学检测系统，包括芯片发送器、滑动导轨、聚光室、和成像镜头，所述芯片发送器设置在滑动导轨的顶端，在滑动导轨上沿着滑动导轨方向设有滑槽，聚光室固定在滑动导轨上，滑槽从的聚光室两侧穿过，被滑槽穿过的聚光室两侧设有通口，通口上设有可升降遮光板，在位于聚光室内的滑槽底部设有可伸缩阻挡块，芯片沿滑槽滑下被阻挡在可伸缩阻挡块上方，在聚光室正对滑槽的一面设有成像口，成像口外部设有成像镜头，成像镜头通过成像口正对芯片和芯片引脚，在聚光室内壁上环绕着芯片引脚设有若干聚光灯。其应用时，可以对芯片引脚进行自动化光学成像检测，提高检测效率，并设置独特的照明系统，提高光学成像质量。

主权项

1.一种芯片引脚光学检测系统，其特征在于，包括芯片发送器(1)、滑动导轨(2)、聚光室(4)、芯片(11)和成像镜头(9)，所述芯片发送器(1)设置在滑动导轨(2)的顶端，在滑动导轨(2)上沿着滑动导轨(2)方向设有滑槽(3)，滑槽(3)与芯片发送器(1)内部连通，聚光室(4)固定在滑动导轨(2)上，其位于芯片发送器(1)的下方，将一截滑动导轨(2)封闭，滑槽(3)从的聚光室(4)两侧穿过，被滑槽(3)穿过的聚光室(4)两侧设有通口(13)，通口(13)位于滑槽(3)上方，且在通口(13)上设有可升降遮光板(14)，在位于聚光室(4)内的滑槽(3)底部设有可伸缩阻挡块(7)，芯片(11)沿滑槽(3)滑下被阻挡在可伸缩阻挡块(7)上方，芯片(11)上的芯片引脚(12)垂直伸出滑槽(3)外，在聚光室(4)正对滑槽(3)的一面设有成像口(8)，成像口(8)正对芯片(11)和芯片引脚(12)，成像口(8)外部设有成像镜头(9)，成像镜头(9)与计算机连接，成像镜头(9)通过成像口(8)正对芯片(11)和芯片引脚(12)，在聚光室(4)内两侧壁上成对设置有聚光灯(10)，聚光灯(10)的位置高于芯片引脚(12)的顶端，聚光灯(10)的外部包围有拱形聚光壳(23)，拱形聚光壳(23)上设有第一束光筒(24)和第二束光筒(25)，第一束光筒(24)和第二束光筒(25)均与拱形聚光壳(23)内部连通，第一束光筒(24)的出射口正对其所在侧的芯片引脚(12)顶端，第二束光筒(25)出射口正对其对侧的芯片引脚(12)顶端，第一束光筒(24)和第二束光筒(25)的中轴线分别与其所对应的芯片引脚(12)的中轴线成45°～60°夹角。