[发明专利]半导体装置有效
| 申请号： | 201811106841.5 | 申请日： | 2018-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN109614277B | 公开（公告）日： | 2023-04-28 |
| 发明（设计）人： | 松川翔平 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F9/52 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种半导体装置。需要检测在存储器访问电路与共享资源之间的路径上的故障、逻辑电路中的故障以及所述共享资源中的故障。半导体装置包括：第一存储器访问电路；第二存储器访问电路，其用于检查所述第一存储器访问电路；存储器，其基于从所述第一存储器访问电路输入的第一访问地址而输出存储器地址；双工比较电路，其将所述第一访问地址与从所述第二存储器访问电路输出的第二访问地址相比较；第一地址比较电路，其将所述第一访问地址与所述存储器地址相比较；以及错误控制电路，其基于来自所述双工比较电路的比较结果以及来自所述第一地址比较电路的比较结果而输出控制信号。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 | ||
【主权项】：
1.一种半导体装置，包括：第一存储器访问电路；第二存储器访问电路，所述第二存储器访问电路用于检查所述第一存储器访问电路；存储器，所述存储器基于从所述第一存储器访问电路输入的第一访问地址，输出存储器地址；双工比较电路，所述双工比较电路比较所述第一访问地址和从所述第二存储器访问电路输出的第二访问地址；第一地址比较电路，所述第一地址比较电路比较所述第一访问地址和所述存储器地址；以及错误控制电路，所述错误控制电路基于来自所述双工比较电路的比较结果和来自所述第一地址比较电路的比较结果，输出控制信号。
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