[发明专利]一种基于张量分解的多线TRL校准方法有效

专利信息
申请号: 201811109940.9 申请日: 2018-09-21
公开(公告)号: CN109270479B 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 白舜 申请(专利权)人: 临海市云谱光电有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01R31/00
代理公司: 杭州知见专利代理有限公司 33295 代理人: 卢金元
地址: 317000 浙江省台*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于张量分解的多线TRL校准参数计算方法,其包括:对多线TRL校准中获得的多根、冗余的N根传输线在所有频点进行同步CP张量分解,将分解获得特征根进行最小二乘拟合获取传播常数,同时由CP张量分解获取所需的端口校准参数。本方案可以将经典的多线TRL校准的误差在总体上缩小5~30倍,而且改进了多线TRL校准的传输线频率覆盖范围的设计要求,适用于实际网络分析仪的测量校准或对仿真数据进行校准修正。
搜索关键词: 一种 基于 张量 分解 trl 校准 方法
【主权项】:
1.一种基于张量分解的多线TRL校准方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、测量反射参数R和透射参数T标准件的S参数;S2、测量N根冗余传输线的S参数,N为大于等于2的正整数;S3、对N根冗余传输线在所有频点进行同步CP张量分解;S4、将分解获得的特征根进行归一化及后期处理,获得校准参数;S5、测量待测网络的S参数并计算级联传输矩阵;S6、通过步骤S5获得的级联传输矩阵及S4获得的校准参数对待测网络进行校准,获取校准后的S参数。
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