[发明专利]低压扩散炉低压扩散工艺有效
申请号: | 201811131609.7 | 申请日: | 2018-09-27 |
公开(公告)号: | CN109285766B | 公开(公告)日: | 2020-09-04 |
发明(设计)人: | 张育 | 申请(专利权)人: | 嘉兴金瑞光伏科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/223 | 分类号: | H01L21/223;H01L31/18 |
代理公司: | 嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙) 33253 | 代理人: | 程开生 |
地址: | 314000 浙江省嘉兴*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种低压扩散炉低压扩散工艺,包括以下步骤。步骤S1:将已制绒的待处理硅片匀速推入低压扩散炉,在持续通入大氮的同时将低压扩散炉内的第一至第五温度区域升温至第一预定温度。步骤S2:维持第一至第五温度区域在第一预定温度的同时将低压扩散炉抽空至真空。步骤S3:维持第一至第五温度区域在第一预定温度的同时持续通入大氮。步骤S4:维持第一至第五温度区域在第一预定温度的同时将低压扩散炉抽空至真空。本发明公开的低压扩散炉低压扩散工艺,其有益效果在于,通过巧妙设置恒压、扩散、升降温等工段,提高待处理硅片的加工质量和加工效率,同时减少废片比例。 | ||
搜索关键词: | 低压 扩散 工艺 | ||
【主权项】:
1.一种低压扩散炉低压扩散工艺,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1:将已制绒的待处理硅片匀速推入低压扩散炉,在持续通入大氮的同时将低压扩散炉内的第一至第五温度区域升温至第一预定温度;步骤S2:维持第一至第五温度区域在第一预定温度的同时将低压扩散炉抽空至真空;步骤S3:维持第一至第五温度区域在第一预定温度的同时持续通入大氮;步骤S4:维持第一至第五温度区域在第一预定温度的同时将低压扩散炉抽空至真空;步骤S5:维持第一至第五温度区域在第一预定温度的同时持续通入氧气和大氮;步骤S6:维持第一至第五温度区域在第一预定温度的同时持续通入氧气、大氮和小氮;步骤S7:将低压扩散炉的第一至第五温度区域升温至第二预定温度的同时持续通入氧气、大氮和小氮;步骤S8:维持第一至第五温度区域在第二预定温度的同时持续通入大氮;步骤S9:将低压扩散炉的第一至第五温度区域降温至第三预定温度的同时持续通入氧气和大氮;步骤S10:将低压扩散炉的第一至第五温度区域升温至第四预定温度的同时持续通入大氮;步骤S11:将低压扩散炉的第一至第五温度区域降温至第三预定温度的同时持续通入大氮,同时将待处理硅片匀速推出低压扩散炉。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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