[发明专利]一种测量晶振元件DLD的装置有效
| 申请号： | 201811132162.5 | 申请日： | 2018-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN110967592B | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 何龙;施小罗 | 申请（专利权）人： | 湖南嘉业达电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01;G01R1/04;H05K7/20 |
| 代理公司： | 北京绥正律师事务所 11776 | 代理人： | 吕平 |
| 地址： | 415500 湖南省*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量晶振元件DLD的装置，包括底板、支撑杆、顶板、敞口壳体、导轨、伺服电机、螺杆、滚珠螺母、滑块、连接条、U型条、连接块、羊毛刷、电动推杆、连接杆、压块、样品条、橡胶块、晶振本体、清洁梳齿、第一连接线、塑料胶套、导线、接触头、弹簧、限位环、存线盒、转轴、绕线轮、扭簧、第二连接线、固定箱、电路板、任意波形发生器、数字示波器、输出接口、高频无感可调电阻、数显功率计、风扇、第一滤网、干燥剂层、排气扇、第二滤网、单片机和把手。本发明通过样品条可一次上多个晶振本体，通过水平驱动结构带动用于测量的接触头进行移动，可逐个进行晶振本体的测量，从而避免工作人员反复拿取晶振本体进行上下料。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 元件 dld 装置 | ||
【主权项】：
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