[发明专利]一种氮硅双修饰石墨烯量子点固态膜的制备方法有效
申请号: | 201811132537.8 | 申请日: | 2018-09-27 |
公开(公告)号: | CN109280902B | 公开(公告)日: | 2020-10-09 |
发明(设计)人: | 姜礼华;田海燕;彭宇;汪涛;肖婷;向鹏;谭新玉 | 申请(专利权)人: | 三峡大学 |
主分类号: | C23C16/26 | 分类号: | C23C16/26;C23C16/505;C23C16/02 |
代理公司: | 宜昌市三峡专利事务所 42103 | 代理人: | 成钢 |
地址: | 443002 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种氮硅双修饰石墨烯量子点固态膜的制备方法。该方法以射频等离子体增强化学气相沉积技术作为石墨烯量子点固态膜生长方法,以高纯乙烯作为石墨烯量子点生长的碳源气体,以硅烷混合气和高纯氮气分别为石墨烯量子点的生长提供硅元素修饰和氮元素修饰。相对于目前常用的石墨烯量子点制备方法,如电化学法、水热法、酸氧化法、溶液化学法以及微波超声等方法,该方法的突出优点是石墨烯量子点不是以液态和胶体态的形式存在,而是以固态膜的形式存在且制备工艺同传统半导体工艺相兼容。本发明所提出的这种氮硅双修饰石墨烯量子点固态膜的制备方法能使石墨烯量子点在太阳能电池、光电探测器以及发光二极管等半导体器件中得到很好的应用。 | ||
搜索关键词: | 一种 氮硅双 修饰 石墨 量子 固态 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种氮硅双修饰石墨烯量子点固态膜制备方法,其特征在于,该方法包括下述步骤:(1)清洗单晶硅基片;(2)以高纯乙烯、硅烷混合气和高纯氮气为工作气体,采用等离子体增强化学气相沉积方法在单晶硅基片表面生长氮硅双修饰石墨烯量子点的固态膜,即可得到氮硅双修饰石墨烯量子点。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
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C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
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