[发明专利]一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具在审
| 申请号： | 201811133831.0 | 申请日： | 2018-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN109141963A | 公开（公告）日： | 2019-01-04 |
| 发明（设计）人： | 林东明;陈新军;宣思鹏;韩飞;韦记朋 | 申请（专利权）人： | 上海海洋大学 |
| 主分类号： | G01N1/08 | 分类号： | G01N1/08;G01N1/36 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201306 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具，包括痕量样品提取匙和封装包埋器两个器具，痕量样品提取匙为匙部、包埋盒槽部的一体结构，封装包埋器包括压板、左内压档、右内压档、高内压楔和低内压楔结构，本发明实现稳定同位素测定样本痕量样品的便捷、精准地提取以及封装包埋，解决现行实验工具难以简便、快捷且精准地提取痕量样品，导致多次重复提取、称量痕量样品过程中产生的称量偏差、样品被污染等问题；解决现行实验工具因多次重复痕量提取、称量样品，以及封装包埋工具缺乏，导致实验成本及其时间成本被增加的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 痕量样品 封装包 内压 痕量 同位素测定 多次重复 实验工具 包埋 称量 取样 稳定同位素 称量偏差 时间成本 实验成本 一体结构 包埋盒 槽部 匙部 压板 样本 污染 | ||
【主权项】：
1.一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具，包括痕量样品提取匙和封装包埋器两个器具，所述痕量样品提取匙为匙部、包埋盒槽部的一体结构，所述封装包埋器包括压板、左内压档、右内压档、高内压楔和低内压楔结构，所述压板一面上固定有左内压档、右内压档、高内压楔和低内压楔，用于封装包埋盒，另一面为为全平面设计，用于压实包埋盒。
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