[发明专利]一种干扰测量方法、装置、芯片及存储介质有效
| 申请号： | 201811143470.8 | 申请日： | 2018-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN110972156B | 公开（公告）日： | 2021-12-28 |
| 发明（设计）人： | 叶枫;唐小勇;刘凤威 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | H04W24/02 | 分类号： | H04W24/02;H04W24/08;H04L5/00 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 彭燕 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供了一种干扰测量方法、装置、芯片及存储介质，过产生干扰的节点的第二功能实体使用所述产生干扰的节点的第一功能实体的参考信号资源标识对应的一个或者多个波束发送用于干扰测量的参考信号，使得受到干扰的节点能快速、准确进行干扰测量，解决了交叉链路干扰下对节点间的干扰测量，进而极大地降低了交叉链路在传输信号带来的影响，提高了系统的传输性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 干扰 测量方法 装置 芯片 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华为技术有限公司，未经华为技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811143470.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
