[发明专利]一种倒装结构芯片的制作方法在审
申请号: | 201811145973.9 | 申请日: | 2018-09-29 |
公开(公告)号: | CN109309149A | 公开(公告)日: | 2019-02-05 |
发明(设计)人: | 张文杰;谢亮;金湘亮 | 申请(专利权)人: | 江苏芯力特电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/40 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 212415 江苏省镇江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种倒装结构芯片的制作方法,采用钨钼铜合金(WMoCu)作为衬底依次外延生长u‑GaN层、n‑AlGaN层、多量子阱层以及p‑GaN层或p‑AlGaN层;去除部分区域的p‑GaN层或p‑AlGaN层以及多量子阱层和部分n‑AlGaN层;在n‑AlGaN层上制作n型欧姆接触金属;去除n‑AlGaN层上的n型欧姆接触金属;在p‑GaN层或p‑AlGaN层上制作p型欧姆接触层;在p型欧姆接触层上制作金属阻挡层;在n‑AlGaN层上光刻出欧姆接触部分,生长n型欧姆接触层;通过后续加工制得。本发明将传统的蓝宝石衬底用钨钼铜合金替换,不仅降低生产成本且简化了加工工艺;明显改善p型欧姆接触和n型欧姆接触特性,提高p面欧姆接触金属粘附性,降低芯片电压,提高芯片稳定性,提高生产率。 | ||
搜索关键词: | 制作 多量子阱层 倒装结构 铜合金 衬底 去除 钨钼 芯片 欧姆接触金属 金属阻挡层 芯片稳定性 后续加工 欧姆接触 外延生长 芯片电压 蓝宝石 传统的 粘附性 上光 替换 生长 | ||
【主权项】:
1.一种倒装结构芯片的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、以钨钼铜合金作为衬底层,在钨钼铜衬底层上外延生长AlN缓冲层,然后依次生长u‑GaN层、n‑AlGaN层、多量子阱层以及p‑GaN层或p‑ AlGaN层;S2、通过光刻和干法刻蚀去除部分区域的p‑GaN层或p‑AlGaN层,以及多量子阱层和部分n‑AlGaN层,露出n‑AlGaN层表面;S3、通过剥离的方法在n‑AlGaN层表面上制作n型欧姆接触金属,并高温退火;S4、腐蚀去除n‑AlGaN层上的n型欧姆接触金属;S5、在p‑GaN层或p‑AlGaN层的表面上制作一层p型欧姆接触层,并在400℃~550℃下退火80s~220s,该p型欧姆接触层也为反射镜层;S6、在p型欧姆接触层的表面制作一层能够包覆该p型欧姆接触层的金属阻挡层;S7、在金属阻挡层和n‑AlGaN层表面上生长一层绝缘层,在绝缘层上光刻出n‑AlGaN层的欧姆接触部分,并通过腐蚀去除该欧姆接触部分上的绝缘层后,再在该欧姆接触部分上生长n型欧姆接触层,并退火;S8、先光刻出p型电极区域,并腐蚀去除该区域的绝缘层,然后加厚制得p电极和n电极,再沉积一层绝缘材料层,并做二次电极分布,最后去除生长衬底和u‑GaN层,并粗化n‑AlGaN层,制得倒装结构紫外LED芯片。
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