[发明专利]具有动态自动修复功能的存储器系统及其运作方法在审
| 申请号： | 201811146012.X | 申请日： | 2018-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN109637578A | 公开（公告）日： | 2019-04-16 |
| 发明（设计）人： | 陈文笙;张佑民;蔡忠松 | 申请（专利权）人： | 瑞鼎科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44;G11C11/413 |
| 代理公司： | 中国商标专利事务所有限公司 11234 | 代理人： | 宋义兴;张立晶 |
| 地址： | 中国台湾新竹市*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开一种具有动态自动修复功能的存储器系统及其运作方法。存储器系统包含存储器及自动侦测及修复电路。自动侦测及修复电路耦接存储器。自动侦测及修复电路包含自我测试单元及修复单元。自我测试单元耦接存储器。修复单元分别耦接存储器及自我测试单元。于存储器系统的初始状态下，自我测试单元即时侦测出存储器中的缺陷并由修复单元即时对存储器中的缺陷进行修复。接着，存储器系统由初始状态进入工作状态。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 存储器系统 自我测试 修复单元 修复电路 自动侦测 耦接 自动修复 运作 修复 | ||
【主权项】：
1.一种具有动态自动修复功能的存储器系统，其特征在于，包含：一存储器；以及一自动侦测及修复电路，耦接该存储器，该自动侦测及修复电路包含：一自我测试单元，耦接该存储器；以及一修复单元，分别耦接该存储器及该自我测试单元；其中，于该存储器系统的一初始状态下，该自我测试单元即时侦测出该存储器中的缺陷并由该修复单元即时对该存储器中的缺陷进行修复，接着，该存储器系统由该初始状态进入一工作状态。
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