[发明专利]一种芯片复位电路、复位方法及MCU芯片有效
| 申请号： | 201811147316.8 | 申请日： | 2018-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN109407807B | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 刘桂蓉;赵启山;陈光胜 | 申请（专利权）人： | 上海东软载波微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F1/24 | 分类号： | G06F1/24;G06F11/07;G06F15/78 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张振军;吴敏 |
| 地址： | 200235 上海市徐汇区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种芯片复位电路、复位方法及MCU芯片，所述芯片复位电路包括：读取及校验电路，适于读取所述芯片的存储器，以获取所述存储器内存储的配置信息和校验信息，并利用所述校验信息校验所述配置信息，当校验失败时反复读取所述存储器并进行校验，直至所述配置信息全部校验成功；复位控制电路，适于在所述读取及校验电路校验失败时，生成芯片复位信号，所述芯片复位信号用于复位所述芯片的内部模块。本发明技术方案能够有效加载芯片配置信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 复位 电路 方法 mcu | ||
【主权项】：
1.一种芯片复位电路，其特征在于，包括：读取及校验电路，适于读取所述芯片的存储器，以获取所述存储器内存储的配置信息和校验信息，并利用所述校验信息校验所述配置信息，当校验失败时反复读取所述存储器并进行校验，直至所述配置信息全部校验成功；复位控制电路，适于在所述读取及校验电路校验失败时，生成芯片复位信号，所述芯片复位信号用于复位所述芯片的内部模块。
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