[发明专利]一种极片电阻电导率测试方法在审
| 申请号： | 201811150086.0 | 申请日： | 2018-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN109358234A | 公开（公告）日： | 2019-02-19 |
| 发明（设计）人： | 颜旭涛;张兴华;魏奕民;秦朝敏;王益 | 申请（专利权）人： | 元能科技（厦门）有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 厦门智慧呈睿知识产权代理事务所(普通合伙) 35222 | 代理人： | 杨玉芳 |
| 地址： | 361021 福建省厦门市湖里*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种极片电阻电导率测试方法，其方法包括:在待测极片电阻的同一位置下，采用N个不同正向压强参数进行测试，以获得待测极片电阻在每个正向压强参数下的测试电阻值趋于稳定的N个第一相对时间；将获得的N个第一相对时间的最大值作为待测极片电阻共同趋于稳定的第二相对时间；在同一位置，根据M个不同的正向压强参数以及第二相对时间，采集待测极片电阻在不同正向压强参数下的M个电导率值；根据M个电导率值获取在该位置下的最佳电导率以及其相应的参考正向压强参数；在不同位置，根据参考正向压强参数以及第二相对时间，采集待测极片电阻在不同位置的电导率，计算不同位置下电导率的RSD％。基于本发明，可测得不同位置的电导率的RSD％。 | ||
| 搜索关键词： | 压强 电导率 极片 正向 电阻 电阻电导率 同一位置 测试 采集 测试电阻 参考 | ||
【主权项】：
1.一种极片电阻电导率测试方法，其特征在于，包括：S1:在待测极片电阻的同一位置下，采用N个不同正向压强参数进行测试，以获得所述待测极片电阻在每个正向压强参数下的测试电阻值趋于稳定的N个第一相对时间；其中，对于每个正向压强参数，每隔预定时间采集所述待测极片电阻的测试电阻值，并根据采集的多个测试电阻值获得测试电阻值趋于稳定的第一相对时间；S2:将获得的N个第一相对时间的最大值作为所述待测极片电阻共同趋于稳定的第二相对时间；S3:在同一位置，根据M个不同的正向压强参数以及所述第二相对时间，采集所述待测极片电阻在不同正向压强参数下的M个电导率值；根据所述M个电导率值获取在该位置下的最佳电导率以及与所述最佳电导率相应的参考正向压强参数；S4:在不同位置，根据所述参考正向压强参数以及第二相对时间，采集所述待测极片电阻在不同位置的电导率值，以计算出不同位置下的电导率的RSD％。
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