[发明专利]包括用于检测字线缺陷的电路的存储装置及其操作方法在审
申请号: | 201811152590.4 | 申请日: | 2018-09-29 |
公开(公告)号: | CN109712664A | 公开(公告)日: | 2019-05-03 |
发明(设计)人: | 李在润;权俊秀;金炳秀;金水龙;朴商秀;朴一汉;李康斌;李宗勋;崔那荣 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11C29/12 | 分类号: | G11C29/12;G11C29/30;G11C29/00;G11C16/12 |
代理公司: | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人: | 李娜 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 提供了一种包括用于检测字线缺陷的电路的存储装置及其操作方法。所述存储装置包括:存储单元阵列,其包括设置在衬底上的第一存储单元和位于第一存储单元上方的第二存储单元;连接到第一存储单元的第一字线和连接到第二存储单元的第二字线,第二字线设置在第一字线上方;以及字线缺陷检测电路,其被配置为在将第一电压施加到第一字线时监测泵激时钟信号的脉冲的数目以检测第一字线的缺陷。电压发生器被配置为当泵激时钟信号的脉冲的数目小于基准值时,将与第一电压不同的第二电压施加到第二字线以对第二存储单元进行编程。 | ||
搜索关键词: | 字线 第二存储单元 存储单元 存储装置 电压施加 时钟信号 检测字 线缺陷 脉冲 电路 存储单元阵列 电压发生器 检测电路 字线缺陷 监测泵 泵激 衬底 配置 编程 检测 | ||
【主权项】:
1.一种存储装置,所述存储装置包括:存储单元阵列,所述存储单元阵列包括设置在衬底上的第一存储单元和位于所述第一存储单元上方的第二存储单元;连接到所述第一存储单元的第一字线和连接到所述第二存储单元的第二字线,所述第二字线设置在所述第一字线上方;时钟发生器,所述时钟发生器被配置为当泵激电压低于基准泵激电压时生成泵激时钟信号;电压发生器,所述电压发生器被配置为响应于所述泵激时钟信号生成所述泵激电压,并基于所述泵激电压生成第一电压和与所述第一电压不同的第二电压;以及字线缺陷检测电路,所述字线缺陷检测电路被配置为在将所述第一电压施加到所述第一字线时监测所述泵激时钟信号的脉冲的数目,以检测所述第一字线的缺陷,其中,所述电压发生器被配置为当所述泵激时钟信号的脉冲的数目小于基准值时将所述第二电压施加到所述第二字线以对所述第二存储单元进行编程。
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